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掃描電鏡能否直接觀察濕樣品？

普通的掃描電子顯微鏡（SEM）不能直接觀察濕樣品，因?yàn)?SEM 需要高真空環(huán)境來防止電子束散射，而濕樣品中的水分在真空中會迅速蒸發(fā)，導(dǎo)致樣品形態(tài)變化甚至損壞。

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，非導(dǎo)電樣品容易產(chǎn)生充電效應(yīng)，導(dǎo)致圖像模糊、亮度不均、漂移或偽影。

優(yōu)化掃描電鏡（SEM）的曝光時間需要在信噪比（SNR）、分辨率、樣品損傷和成像時間之間取得平衡。

掃描電鏡（SEM）光束偏移會導(dǎo)致成像不清晰、分辨率下降、甚至樣品漂移。

掃描電鏡在對磁性材料（如鐵、鈷、鎳及其合金）成像時，可能會受到磁場干擾，導(dǎo)致成像質(zhì)量下降。

掃描電鏡（SEM）樣品是否可以重復(fù)使用，取決于以下幾個因素：

在掃描電子顯微鏡（SEM）成像過程中，樣品可能會受到污染，導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降或影響分析結(jié)果。

掃描電子顯微鏡（SEM）的成像過程主要依賴于聚焦電子束掃描樣品表面，并通過探測產(chǎn)生的電子信號來構(gòu)建圖像。