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如何在掃描電鏡中減少樣品的電子束損傷

在掃描電鏡（SEM）?中減少樣品的電子束損傷可以通過以下幾種方法實現(xiàn)：

掃描電子顯微鏡（SEM）?的冷卻臺（也稱為冷臺或冷凍臺）是專門設計用于觀察溫度敏感樣品的一種附件。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，高真空（High Vacuum, HV）和低真空（Low Vacuum, LV）模式的切換是為了適應不同樣品的成像需求。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，焦點合成（Focus Stacking）是一種提高圖像景深的方法，特別適用于觀察樣品具有較大高度差的復雜表面。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中進行高分辨率的斷層掃描（通常稱為Serial Block-Face Imaging或FIB-SEM斷層掃描）是獲取樣品內(nèi)部結構的關鍵技術。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中實現(xiàn)高分辨率的表面刻畫涉及多方面的優(yōu)化，包括樣品準備、顯微鏡設置和操作技巧。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，聚焦調節(jié)對圖像質量有顯著影響。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中進行準確的斷面分析可以提供樣品內(nèi)部結構的信息，尤其適用于材料科學、電子工程和生物學等領域。