如何通過調(diào)節(jié)加速電壓優(yōu)化掃描電鏡中的深度分辨率

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，加速電壓對電子束的穿透深度和樣品的表面和深度信息分辨率有顯著影響。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-06

掃描電鏡的聚焦電流如何影響分辨率和圖像清晰度

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，聚焦電流（或稱束流強度）對分辨率和圖像清晰度有著重要影響。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-06

掃描電鏡中的圖像偽影如何通過優(yōu)化成像參數(shù)進行消除

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，圖像偽影（artifacts）可能會影響圖像的質(zhì)量和分析的準確性。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-05

掃描電鏡的二次電子探測器如何影響圖像對比度

在掃描電子顯微鏡 (SEM) ?中，二次電子探測器 (Secondary Electron Detector, SE Detector) 是生成圖像的主要設備之一，它通過探測從樣品表面發(fā)射出的二次電子 (Secondary Electrons, SE) 來構(gòu)建圖像。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-05

相約深圳丨澤攸科技誠邀您參加CIOE2024中國光博會

2024年9月11-13日，第二十五屆中國國際光電博覽會（CIOE中國光博會）將在深圳國際會展中心舉辦，澤攸科技將攜一眾先進科學儀器及新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案亮相6D91、6D92展位，我們期待著與各位新老朋友們見面，也希望通過此次機會與業(yè)內(nèi)同仁、專家們共同交流探討、共商合作、互利發(fā)展。

MORE INFO → 公司新聞 2024-09-04

掃描電鏡的光束調(diào)制如何影響分辨率和成像速度

在掃描電鏡（SEM）?中，光束調(diào)制是指通過調(diào)整電子束的各種參數(shù)（如束流強度、掃描速度、加速電壓等）來影響成像的過程。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-04

如何在掃描電鏡中進行高真空條件下的非導電樣品成像

在掃描電鏡（SEM）?中對非導電樣品進行高真空條件下的成像可能會遇到電荷積累問題，這會導致圖像失真甚至損壞樣品。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-04

如何在掃描電鏡中優(yōu)化樣品的電荷補償

在掃描電鏡（SEM）?中，優(yōu)化樣品的電荷補償非常重要，以確保圖像質(zhì)量和準確性。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-03