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掃描電鏡圖像邊緣模糊是因為調(diào)焦沒調(diào)好嗎？

掃描電鏡（SEM）圖像邊緣模糊的確可能與調(diào)焦不當(dāng)有關(guān)，但這只是眾多可能原因之一。

當(dāng)掃描電鏡（SEM）樣品太大、無法放入樣品艙時，可以通過以下幾種方式解決或繞開限制：

掃描電鏡（SEM）可以非常有效地檢測金屬表面的缺陷。它是材料表面分析中常用、可靠的工具之一，尤其適用于微米甚至納米級別的缺陷觀察。

掃描電鏡（SEM）圖像在放大后出現(xiàn)模糊，是較常見的問題，影響微納米結(jié)構(gòu)觀察的清晰度與分辨率。

掃描電鏡（SEM）圖像出現(xiàn)抖動（flickering / jittering），是一種常見但令人困擾的問題，圖像可能表現(xiàn)為輕微跳動、震蕩或邊緣模糊，影響成像質(zhì)量和精度。

掃描電鏡（SEM）中樣品在腔內(nèi)出現(xiàn)“漂移”現(xiàn)象，通常表現(xiàn)為圖像位置緩慢移動或無法穩(wěn)定對焦，嚴(yán)重時甚至圖像模糊、重影。

掃描電鏡（SEM）圖像突然變黑，意味著探測器沒有接收到足夠的信號或信號完全喪失。

掃描電鏡（SEM）成像過程中圖像“漂移”是指圖像在連續(xù)掃描時緩慢移動、扭曲或者抖動，這會嚴(yán)重影響圖像清晰度與可重復(fù)性。