在選擇適合的探針和檢測器進行掃描電鏡（SEM）分析時，需要考慮要研究的樣品性質(zhì)、所需分辨率、表面拓撲特征和所需信號類型。以下是一些常見的探針和檢測器以及它們的應(yīng)用：

二次電子顯微鏡（SEMs）：

二次電子探針（SE）：用于獲得樣品表面的形貌信息，對樣品表面的拓撲特征非常敏感。適用于大多數(shù)樣品。

反射電子顯微鏡（BSE）：用于獲得樣品的原子數(shù)或密度信息，對高原子序數(shù)元素敏感。適用于成分分析。

能量色散X射線光譜分析（EDS）：

X射線能譜探測器：用于定量分析樣品的元素成分。適用于確定樣品的化學成分和元素分布。

掃描穿透電子顯微鏡（STEM）：

透射電子探針（TEM）：用于觀察樣品內(nèi)部的細節(jié)，可實現(xiàn)高分辨率的原子級成像和分析。

反射光電子顯微鏡（REM）：

反射電子顯微鏡：用于獲得原子層面的表面形貌信息，對晶體結(jié)構(gòu)和異質(zhì)界面的研究非常有用。

探針柵顯微鏡（AFM）：

原子力顯微鏡：用于研究樣品的表面拓撲、力和磁性等性質(zhì)。適用于非導電樣品。

在選擇探針和檢測器時，還需要考慮以下因素：

分辨率：選擇與所需分辨率匹配的設(shè)備。

樣品性質(zhì)：考慮樣品的導電性、形狀和尺寸。

分析目的：明確您的分析目標，是觀察樣品的表面形貌、元素分布還是內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

成本：不同類型的探針和檢測器有不同的價格，需要根據(jù)預算做出選擇。

ZEM20臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的如何選擇適合的探針和檢測器以進行掃描電鏡分析。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢