SEM（掃描電子顯微鏡）的放大倍數(shù)可以非常高，可以達(dá)到數(shù)百萬(wàn)倍甚至上千萬(wàn)倍。放大倍數(shù)取決于所使用的SEM儀器的類型、工作模式和目標(biāo)樣品的特性。通常，SEM的放大倍數(shù)分為兩種類型：低放大和高放大。

低放大倍數(shù)范圍一般在幾十倍到數(shù)千倍之間，主要用于樣品的外觀表面形貌觀察和分析，如觀察材料表面的微觀結(jié)構(gòu)、紋理、粗糙度等。

高放大倍數(shù)可以達(dá)到數(shù)十萬(wàn)倍或以上，主要用于納米級(jí)別的成像和分析，例如納米結(jié)構(gòu)、晶體缺陷、表面形貌、材料化學(xué)組成等。在高放大倍數(shù)下，可以通過(guò)SEM的EDS（能譜分析）或者EBSD（電子背散射衍射）技術(shù)來(lái)確定樣品的元素組成或晶體結(jié)構(gòu)。

臺(tái)式掃描電鏡

需要注意的是，放大倍數(shù)只是SEM分析的一個(gè)指標(biāo)，SEM分析還可以使用其他技術(shù)和參數(shù)，如掃描速度、分辨率、信噪比等。不同的應(yīng)用和實(shí)驗(yàn)要求會(huì)需要不同的SEM工作模式和參數(shù)設(shè)置。

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