ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以在低溫下給樣品測試嗎？
日期：2022-03-25
問：ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以在低溫下給樣品測試嗎？
答：ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以搭載各品類PicoFemto原位樣品臺(tái)，輕松完成加熱、拉伸、低溫、電學(xué)測試、光學(xué)測試等原位SEM測量功能，詳情請?jiān)兛头?/span>
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作者：澤攸科技