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銅陵市委書記丁純一行蒞臨澤攸科技調(diào)研考察

11月29日上午，銅陵市委書記丁純前往安徽澤攸科技有限公司開展人才工作專題調(diào)研，市領(lǐng)導(dǎo)鄭剛、馬軍、楊文萍，市經(jīng)開區(qū)黨工委書記及管委會主任古勁松等領(lǐng)導(dǎo)陪同參加。

掃描電鏡（SEM）和傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡在原理、分辨率、樣品類型以及應(yīng)用方面有一些顯著的區(qū)別：

掃描電鏡（SEM）圖像的解釋和分析涉及到對圖像中細微結(jié)構(gòu)和特征的理解。

掃描電鏡（SEM）在樣品方面有一些要求和限制，這些因素可以影響成像質(zhì)量和分析的可行性。

掃描電鏡中的能譜分析，也稱為EDS，是一種用于分析材料成分的技術(shù)。

掃描電鏡通常對樣品本身不會引起磨損和疲勞。SEM是一種非侵入性的表征技術(shù)，通過照射樣品表面并測量反射、散射或發(fā)射的電子來獲取圖像，不會對樣品造成直接的物理影響。

掃描電鏡圖像的獲取時間取決于多個因素，包括樣品的性質(zhì)、所需的圖像分辨率、電子束的能量、以及所使用的儀器的性能等。

在使用掃描電子顯微鏡（SEM）時，可能會遇到一些常見的操作問題。