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澤攸科技亮相第十三屆納博會

三月一日至三日，澤攸科技攜完全自主研制的材料表征測量及半導(dǎo)體加工設(shè)備，應(yīng)邀出席第十三屆國際納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)博覽會（以下簡稱納博會）。

掃描電鏡SEM可以通過能譜儀（EDS）來對樣品的成分進(jìn)行分析。EDS是一種通過測量樣品表面上散射的X射線來確定樣品中元素組成的技術(shù)。

掃描電鏡SEM可以用來觀察和分析各種材料的表面形貌和微結(jié)構(gòu)。那么掃描電鏡可以分析什么呢？

掃描電鏡通過高能電子與樣品間的相互作用而成像。掃描電鏡中的電子槍會發(fā)射出高能電子束，并且這個電子束被聚焦成一個非常小的束斑，然后通過掃描樣品表面來獲取信號。

掃描電鏡是一種利用高能電子束與樣品相互作用，產(chǎn)生反射、透射、散射等信號，通過信號的捕捉與分析，獲取樣品表面形貌、成分和結(jié)構(gòu)等信息的儀器。它的結(jié)構(gòu)組成包括以下幾個主要部分：

掃描電鏡電子槍的基本工作原理是通過加熱陰極發(fā)射出電子，然后利用加速電場將電子加速到較高的能量水平，最后通過電磁透鏡系統(tǒng)將電子聚焦成細(xì)小的電子束。

臺式掃描電鏡是一種可放置在實驗室桌面上的掃描電鏡。與傳統(tǒng)的掃描電鏡相比，它體積較小，操作簡便，適合在實驗室中進(jìn)行樣品分析和觀察。

掃描電鏡?（SEM）是利用電子束與樣品相互作用來成像的一種顯微鏡。